A maioria dos CT industriais temEstrutura de granito. Nós podemos fabricarconjunto de base de máquina de granito com trilhos e parafusospara seus raios X e tomografias computadorizadas personalizados.
A Optotom e a Nikon Metrology venceram a licitação para o fornecimento de um sistema de Tomografia Computadorizada de Raios X de grande porte para a Universidade de Tecnologia de Kielce, na Polônia. O sistema Nikon M2 é um sistema de inspeção modular de alta precisão, com um manipulador patenteado de 8 eixos, ultrapreciso e estável, construído sobre uma base de granito de nível metrológico.
Dependendo da aplicação, o usuário pode escolher entre três fontes diferentes: a exclusiva fonte de microfoco de 450 kV da Nikon com alvo giratório para escanear amostras grandes e de alta densidade com resolução micrométrica, uma fonte de minifoco de 450 kV para escaneamento de alta velocidade e uma fonte de microfoco de 225 kV com alvo giratório para amostras menores. O sistema será equipado com um detector de painel plano e o detector CLDA (Curved Linear Diode Array) patenteado pela Nikon, que otimiza a coleta de raios X sem capturar os raios X dispersos indesejados, resultando em nitidez e contraste de imagem impressionantes.
O M2 é ideal para a inspeção de peças com tamanhos variados, desde amostras pequenas e de baixa densidade até materiais grandes e de alta densidade. A instalação do sistema ocorrerá em um bunker especialmente construído para esse fim. As paredes de 1,2 m já estão preparadas para futuras atualizações para faixas de energia mais altas. Este sistema com todas as opções será um dos maiores sistemas M2 do mundo, oferecendo à Universidade de Kielce extrema flexibilidade para atender a todas as aplicações possíveis, tanto da pesquisa quanto da indústria local.
Parâmetros básicos do sistema:
- Fonte de radiação minifocus de 450 kV
- Fonte de radiação microfocal de 450 kV, tipo “alvo rotativo”
- Fonte de radiação de 225 kV do tipo “Alvo Rotativo”
- Fonte de radiação “alvo multimetálico” de 225 kV
- Detector linear Nikon CLDA
- detector de painel com resolução de 16 milhões de pixels
- a possibilidade de testar componentes de até 100 kg
Data de publicação: 25 de dezembro de 2021